inTEST ThermoStream 熱流儀, 實(shí)現(xiàn)芯片高低溫沖擊測(cè)試
上海伯東代理美國(guó) inTEST 旗下 Temptronic ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 移動(dòng)設(shè)計(jì), 通過(guò)輸出快速, 清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 為芯片溫度測(cè)試提供快速準(zhǔn)確的溫度環(huán)境, 適合模擬芯片在各種溫度測(cè)試和調(diào)節(jié)的應(yīng)用, 廣泛應(yīng)用于集成電路 IC 卡, 電子芯片, 閃存, 功率器件, 光纖收發(fā)器或電子電路的在電高低溫循環(huán)試驗(yàn) Thermal cycle, 高低溫沖擊測(cè)試 thermal shock, 特性分析等.

inTEST 熱流儀利用創(chuàng)新的溫度測(cè)試解決方案, 方便您直接在公司實(shí)驗(yàn)室及工作平臺(tái)上進(jìn)行光組件, 電路板模塊等測(cè)試.

 

Temptronic ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)特性:
冷凍機(jī)(Chiller)特殊設(shè)計(jì), 不需要液態(tài)氮?dú)饣蚨趸祭鋮s
每秒可快速升溫或降溫 18°C
分辨率 +-0.1℃
溫度精度 +-1.0℃ (通過(guò)美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院 NIST 校準(zhǔn))
機(jī)臺(tái)模擬溫度極限高點(diǎn) + 300 ℃; 極限低點(diǎn) -100 ℃
通訊接口 IEEE 488 和 RS-232
控制面板可選旋鈕或觸摸屏操作
特殊設(shè)計(jì), 防止水氣在 DUT上凝結(jié)
2種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode

與傳統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱對(duì)比, 上海伯東 inTEST 熱流儀主要優(yōu)勢(shì):
1. 變溫速率更快, 每秒可快速升溫/降溫 15 °C
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度，可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊), 可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái) load board上 的 IC 進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類(lèi)測(cè)試
6. 對(duì)整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度
7. inTEST 熱流儀和其他測(cè)試儀器聯(lián)用時(shí), 通訊方便, 無(wú)異常中斷風(fēng)險(xiǎn), 可連續(xù)運(yùn)行.

一. Temptronic ThermoStream ATS-500 系列熱流儀: 從小型臺(tái)式的 -20℃ 到 -80℃ 的大型機(jī)型,適用于實(shí)驗(yàn)室或工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中, 傳統(tǒng)的半導(dǎo)體和小裝配溫度測(cè)試.

inTEST 型號(hào)	溫度范圍 °C	氣體流量 scfm	變溫速率
ATS-505	-20 至 +225	低溫4 高溫 10	0 至 +125°C, <3 min +125 至 0°C, <4 min
ATS-515	-45 至 +225	10	-40至+125°C, <12 sec +125至 -40°C, <40 sec
ATS-525	-60 至 +225	低溫4 高溫 10	-40至 +125°C, <12 sec +125至 -40°C, <40 sec
ATS-535 內(nèi)置空壓機(jī)	-60 至 +225	5	-40至 +125°C, <12 sec +125至 -40°C, <40 sec
ATS-545	-80至 +225	12,最大 18	-55至+125°C, <10 sec +125至 -55°C, <10 sec

* Temptronic ThermoStream ATS-500 系列高低溫測(cè)試機(jī)替代 Temptronic 型號(hào): TP04100,TP04500,TP04310;Thermonics 型號(hào) T-2610BV,T-2600BV,T-2650BV,T-2820

二. Temptronic ThermoStream ATS-700 系列熱流儀: 由幾種高容量的 THERMOSTREAM® 系統(tǒng)組成, 此設(shè)計(jì)是為了快速和準(zhǔn)確控制您的組件和模塊到達(dá)所需要的溫度, 極限溫控功能 -100°C 至 +300°C, 不僅可以經(jīng)由加速到達(dá)設(shè)定溫度的時(shí)間來(lái)提高產(chǎn)能, 還可以讓高功率組件和大熱容量基材以美國(guó)標(biāo)準(zhǔn) (MIL-STD) 測(cè)試條件下, 24 小時(shí) 7天的連續(xù)測(cè)試. 無(wú)論是單獨(dú)直接測(cè)試還是用在外接的腔體, 強(qiáng)大靈活的 ATS-700 系列高低溫測(cè)試機(jī)都適用.

型號(hào)	高低溫氣流沖擊范圍 °C	氣體流量 scfm	變溫速率
ATS-710E	-80°C to +225°C	12,最大 18	-55至 +125°C <10 sec +125至 -55°C <10 sec
ATS-730E	-90°C to +225°C 高容量	18	-55至 +125°C <10 sec +125至 -55°C <10 sec
ATS-750E	-90°C to +300°C 高溫度、高容量	18	-40至 +125°C <12 sec +125至 -40°C <40 sec
ATS-770E	-100°C to +225°C 超低溫度	8,最大 12	-55至 +125°C <10 sec +125至 -55°C <10 sec

* 以上系統(tǒng)擁有共通的操作工作接口
* ThermoStream ATS-700 系列高低溫測(cè)試機(jī)替代 Temptronic 型號(hào): TP04300,TP04390,;Thermonics 型號(hào) T-2500E/BE/EA,T-2500HFE/HFB,T-2500E/300,T-2500IX

inTEST 高低溫沖擊熱流儀應(yīng)用
車(chē)載芯片及器件, 電源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纖收發(fā)器等溫度沖擊測(cè)試.

美國(guó) inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設(shè)計(jì), 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過(guò) NIST 校準(zhǔn). 通過(guò) ISO 9001, CE, RoHS 認(rèn)證. inTEST 熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測(cè)試, 滿足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯東是美國(guó) inTEST 中國(guó)總代理.

若您需要進(jìn)一步了解 inTEST 熱流儀詳細(xì)信息或討論, 請(qǐng)參考以下聯(lián)絡(luò)方式：
上海伯東: 葉小姐                                   臺(tái)灣伯東: 王小姐
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